期刊文献+

EM 400电子显微镜高压快速调整原理

Principle of Rapid High Tension Adjustment for EM400 Model Electron Microscope
下载PDF
导出
摘要 简要介绍了EM 400电子显微镜高压的产生、调整和故障分析,着重阐述快速调整电路原理。 The generation, adjustment and trouble analysis of high tension for EM400 model electron microscope are described in this paper. And emphasis is made on principle of rapid adjustment for HT.
作者 刘学文
机构地区 南京医科大学
出处 《分析测试仪器通讯》 1995年第2期118-119,共2页
关键词 电子显微镜 高压 electron microscope high tension
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部