BIT虚警影响因素分析和解决方案

现代飞行器广泛采用机内测试(Built in test,简称BIT)技术,但是常规BIT面临诊断算法固定、不易修改、判断故障的途径单一、缺乏推理和学习能力,因此,存在虚警率高,难以有效发挥其应有的作用。论述BIT虚警的基本理论、虚警的危害及现状,并从BIT虚警产生的原因分析入手,提出解决虚警问题的一些方法和措施。