期刊文献+

半导体制造过程中的质量控制 被引量:1

下载PDF
导出
摘要 随着企业之间竞争的越来越激烈,企业产品的质量变得越来越重要。企业改进产品的质量可以提高自身的竞争力,使其在国际竞争中处于优势地位。本文分析了全球半导体制造企业目前的状态,以及中国的半导体加工企业所面临的困难,期望通过适当的统计过程控制手段,帮助中国的半导体制造企业改善它们产品的质量,并提高竞争力。
作者 吴希
出处 《电子制作》 2016年第12X期15-15,共1页 Practical Electronics
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献7

  • 1Ravichandran T, RaiA. Total quality management in information systems development:key constructs and relationships[J]. Journal of Management Information Systems, 1999 - 2000, 16(3):119 - 155.
  • 2Harter D E,Krishnan M S, Slaughter S A. Effects of processmaturity on quality, cycle time, and effort in software product development[J]. Management 2000,46(4) :451 - 466.
  • 3Krishnan M S, Kriebel C H, Kekre S, Mukhopadhyay T. An empirical analysis of productivity and quality in the software products[J]. Management science,2000,46(6) :745 - 759.
  • 4吴聪.统计过程控制方法及应用研究[D].山东大学,2012.
  • 5中华人民共和国国家军用标准.GJB3014-97电子元器件统计过程控制体系[s].1997.
  • 6黄玲,赵文平,游海龙.电子元器件制造过程中非正态工艺参数的统计过程控制技术[J].电子质量,2010(1):38-40. 被引量:3
  • 7常金玲.信息系统开发中的质量管理[J].情报科学,2001,19(9):976-977. 被引量:2

共引文献56

同被引文献5

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部