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自动化测试系统的使用及检测方案

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摘要 随着电子产品在人们生活中的广泛使用,自动化测试系统或设备在提高生产效率,满足客户需求和确保产品质量方面起着越来越重要的作用。那么,在生产使用中,如何保证测试设备的正常运行,保证测试精度?本文根据作者近几年的工作经验,通过标准设备外交准、电压自动补偿、系统可靠性检测、脚本管理和日常维护等方面进行阐述。
作者 赵芳芳
出处 《电子技术与软件工程》 2017年第3期154-154,210,共2页 ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
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参考文献1

二级参考文献6

  • 1Joseph Ingino Jr,Bruce Wooley.A continuouslycalibrated 12-b,10-MS/s,3.3-V A/D converter[J].IEEE J Solid-State Circuit,1998,33 (12):1920-1931.
  • 2SongBS,Tompset M F,Lakshmikumar K R.A 12-b 1-M samples/s capacitor error-averaging pipelined A/D converter[J].IEEE J Solid-State Circuits,1988,SC(23):1324-1333.
  • 3Chin Shu-Yuan,Wu Chung-Yu.A CMOS ratio-independent and gain-insensitive algorithmic analog-todigital converter [J].IEEE J Solid-State Circuits,1996,31(8) :1201- 1207.
  • 4Karanicolas A N,Lee Hae-Seung,Bacrania K L.A 15-b 1-M samples/s digitally self-calibrated pipelined ADC[J].IEEE J Solid-State Circuits,1993,28(12):1207-1215.
  • 5Soenen E G,Geiger R L.An architecture and an algorithm for fully digital correction of monolithic pipelined ADC's [J].IEEE Transaction on Circuits and Systems.Ⅱ:Analog and Digital Signal Processing,1995,42(3):143- 153.
  • 6Lin Y M,Kim B,Gray P R.A 13-b 2.5 MHz selfcalibrated pipelined A/D converter in 3-μm CMOS [J].IEEE J Solid-State Circuits,1991,26 (4):628-636.

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