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R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计应用——R&S公司成功举办2016射频集成电路测试技术研讨会被引量：1

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摘要近日,罗德与施瓦茨公司在北京、上海和深圳三地成功举办了＂2016年R＆S射频集成电路测试技术研讨会＂。260多名来自各种IC设计企业的用户代表参加了本次研讨会,共同交流和分享了IC测试领域的产品和方案。

出处《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2017年第1期75-75,共1页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

关键词集成电路测试技术研讨会 IC设计 R&S公司测试方案射频罗德与施瓦茨公司应用

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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同被引文献4

1缪德山,李道本.一种改进的LDPC码译码算法[J].电子测量与仪器学报,2007,21(6):19-21. 被引量：4
2徐恒舟,李楠,赵可新,魏文静,朱海.5G通信中准循环LDPC码的环结构分析[J].电子测量与仪器学报,2019,0(7):50-55. 被引量：12
3胡震宇,宋贺伦,郭海波,吴涵,茹占强.一种低码率的LDPC译码器的设计研究[J].电子测量技术,2020,43(16):62-67. 被引量：2
4李锦明,王国栋,刘梦欣,张志豪,郑志旺.CCSDS标准下LDPC码的编译码算法研究[J].电子学报,2020,48(11):2114-2121. 被引量：12

引证文献1

1李锦明,贾博雄.LDPC编码的硬件实现及IC研究[J].单片机与嵌入式系统应用,2022,22(4):65-69. 被引量：1

二级引证文献1

1李锦明,张萍萍.在FPGA上实现对RS译码器的优化设计[J].单片机与嵌入式系统应用,2023,23(2):19-22.

1R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计应用——R&S公司成功举办2016射频集成电路测试技术研讨会[J].电子测量技术,2017,40(1):194-194.
2R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计应用——R&S公司成功举办2016射频集成电路测试技术研讨会[J].国外电子测量技术,2017,36(1):111-111.
3R＆S公司成功举办2016射频集成电路测试技术研讨会[J].广播与电视技术,2017,44(2):148-148.
4徐红亮,田亮,乔小龙.数字电子电路测试技术[J].黑龙江科技信息,2015(23).
5现代集成电路测试技术[J].中国集成电路,2007,16(1):91-91.
6现代集成电路测试技术[J].电子工程师,2007,33(2):77-77.
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8现代集成电路测试技术[J].电子工程师,2006,32(2):67-67.
9现代集成电路测试技术[J].中国集成电路,2007,16(2):94-94.
10现代集成电路测试技术[J].电子工程师,2006,32(5):28-28.

电子测量与仪器学报

2017年第1期

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