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西电郝跃院士团队在先进微电子器件研究领域取得突破性进展
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摘要
日前,西安电子科技大学微电子学院郝跃院士研究团队在负电容锗与锗锡沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)研究领域取得了突破性进展,首次通过实验,系统地验证了铁电MOSFET器件中的负电容效应以及负电容对器件电流和亚阈值摆幅的提升作用。
出处
《半导体信息》
2016年第6期17-18,共2页
Semiconductor Information
关键词
微电子器件
突破性
金属氧化物半导体场效应晶体管
院士
西安电子科技大学
MOSFET器件
电容效应
负电容
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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