R&S先进IC测试方案,全面助力万物互连时代的IC设计应用——R&S公司成功举办2016射频集成电路测试技术研讨会

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摘要 2016年12月12日-16日,罗德与施瓦茨公司在北京、上海和深圳3个城市成功举办了＂2016年R＆S射频集成电路测试技术研讨会＂。260多名来自各种IC设计企业的用户代表参加了本次研讨会,共同交流和分享了IC测试领域的产品和方案,不仅提升了罗德与施瓦茨在IC行业的产品竞争力,而且对整个IC设计行业的发展和进步起到了促进作用。

出处《电子测量技术》 2017年第1期194-194,共1页 Electronic Measurement Technology

关键词集成电路测试技术研讨会 IC设计 R&S公司测试方案射频罗德与施瓦茨公司产品竞争力

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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