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R＆S公司成功举办2016射频集成电路测试技术研讨会

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摘要 2016年12月12日～16日，罗德与施瓦茨公司在北京、上海和深圳三地成功举办了“2016年R＆S射频集成电路测试技术研讨会”。260多名来自各种IC设计企业的用户代表参加了本次研讨会，共同交流和分享了IC测试领域的产品和方案，

出处《广播与电视技术》 2017年第2期148-148,共1页 Radio & TV Broadcast Engineering

关键词集成电路测试技术研讨会 R&S公司射频罗德与施瓦茨公司 IC测试设计企业

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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广播与电视技术

2017年第2期

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