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应用X荧光仪快速测定铁矿石品位
被引量：
1
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摘要
文章确定了便携式X荧光仪测量铁矿石的工作状态,并分析了相关的基体效应,在此基础上建立矫正曲线。最后测量值与化学分析参考值之间的相对误差在正负3.6%内,便携式X荧光分析仪能快速精准测量铁矿石品位。
作者
林宏健
夏源
陈诚
候铁钢
机构地区
成都理工大学地学核技术四川省重点实验室
出处
《科技创新与应用》
2017年第6期34-35,共2页
Technology Innovation and Application
关键词
铁矿石
便携式X荧光仪
基体效应校正
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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