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压敏电阻监测保护器的研制 被引量:2

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摘要 对小电流接地系统中消弧线圈的可控硅击穿、烧毁的现象进行分析,设计的压敏电阻监测保护器可避免可控硅损坏,提高消弧线圈使用寿命,应用前景广阔。
作者 江文卓 刘波
出处 《电工技术》 2017年第3期76-77,共2页 Electric Engineering
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参考文献2

二级参考文献8

  • 1Anderson P M. Analysis of Faulted Power Systems[M].Iowa: The Iowa State University Press, 1973.
  • 2T. K. Gupta,W. G. Carlson.A grain-boundary defect model for instability/stability of a ZnO varistor[J]. Journal of Materials Science . 1985 (10)
  • 3A. K. Jonscher.A new understanding of the dielectric relaxation of solids[J]. Journal of Materials Science . 1981 (8)
  • 4K. Eda,A. Iga and M. Matsuoka.Current Creep in Nonohmic ZnO Ceramics, Jpn. Journal of Applied Physics . 1979
  • 5T. K. Gupta,W. G. Carlson and P. L. Hower.Current instability phenomena in ZnO varistors under a continous AC stress. Journal of Applied Physics . 1981
  • 6A. K. Jonscher.The universal dielectric response. Nature . 1977
  • 7K. Eda,A. Iga and M. Matsuoka.Degradation mechanism of non-ohmic zinc oxide ceramics. Journal of Applied Physics . 1980
  • 8A. Rohatgi,S. K. Pang and T. K. Gupta.The deep level transient spectroscopy studies of a ZnO varistor as a function of annealing, J. Applied Physics . 1988

共引文献23

同被引文献15

引证文献2

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