摘要
目的:探讨新生儿低血糖脑损伤的临床特征及危险因素。方法:以笔者收集的2014年7月-2016年7月来我院出生的48例低血糖脑损伤新生儿为例,回顾性分析患儿的临床资料,总结其临床特征和导致低血糖脑损伤的危险因素。结果:所有患儿均行MRI检查发现,患儿均存在顶枕部头皮层受累,DWI表现为高信号。其中43例T1W1表现为低信号、T2W1表现为高信号。部分患儿伴有惊厥、肌肉紧张、呼吸异常等情况。经多因素回归分析,胎龄、体重、妊娠期糖尿痛、惊厥、低血糖持续时间等因素是导致低血糖脑损伤的危险因素。结论:新生儿低血糖脑损伤多是因胎儿惊厥、胎龄过小、妊娠期糖尿病等因素造成,针对这种情况应早期干预和治疗。
