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封装中的热管理技术——消除高密度大功率器件的热损坏隐患
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摘要
军用电子设备中正越来越多地使用诸如雷达阵列、能量武器和高性能计算机这样的高密度、大功率系统,并且经常运行在高温环境下,这些因素都可能会造成内部微型封装器件的热机械损坏。目前的电气互联正不断朝向三维堆叠的方向发展,一个封装内已经可以整合好几个芯片,它们发出的热量已经成为军用电子器件面临的最大敌人之一。
作者
刘亚威
机构地区
中国航空工业发展研究中心
出处
《国防制造技术》
2009年第5期30-32,35,共4页
Defense Manufacturing Technology
关键词
大功率器件
军用电子设备
封装器件
凸点
高性能计算机
机械损坏
倒装芯片
芯片系统
热界面材料
功
分类号
TN05 [电子电信—物理电子学]
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