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摘要我校7位教授入选2016年中国高被引学者榜单2017年2月27日，世界著名出版集团爱思唯尔（Elsevier）发布2016年中国高被引学者（MostCitedChineseResearchers）榜单，我校位教授入选，分布在计算机科学、电气与电子工程、控制与系统工程和医学4个学科领域．这已经是这7位学者连续第3年入选年度高被引榜单．

出处《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第2期74-74,共1页 Journal of Xidian University

关键词计算机科学电子工程系统工程学者中国

分类号 TN02 [电子电信—物理电子学]

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1刘智雅.2009年4月～6月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2009,27(5):63-65.
2蔡日梅.2010年7-8月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2011,29(5):63-65.
3陈静.2012年8～9月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2015,33(2):73-73.
42007年5-7月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2007,25(4):63-63.
5陈静.2012年4-6月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2014,32(2):65-67.
6蔡日梅.2010年9～10月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2012,30(4):65-65.
7陈静.2012年9～10月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2015,33(3):66-67.
8蔡日梅.2009年8月～10月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2010,28(2):64-65.
9钱振宇.电气与电子设备的静电放电抗扰度试验[J].LSI制造与测试,1997,18(2):29-33.
10蔡日梅.2009年6月～8月颁布的部分电气与电子类IEC标准[J].电子产品可靠性与环境试验,2010,28(1):63-65.

西安电子科技大学学报

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