期刊文献+

透射式电子背散射衍射技术(t-EBSD)在材料学中的应用研究进展 被引量:7

Research Progress in Application of Transmission Electron Back-scattering Diffraction (t-EBSD) Technique for Materials Science
原文传递
导出
摘要 t-EBSD技术是自2012年发展起来的新兴测试技术,本文介绍了t-EBSD测试分析技术的原理,总结了tEBSD技术在材料学中的应用及其与其它分析测试技术结合的应用研究,并展望了t-EBSD技术研究应用的发展趋势。目前,t-EBSD技术主要用于超细晶粒、大形变量金属、氧化物薄膜等研究,未来t-EBSD技术将会与多种分析技术相结合,从而扩大高分辨微观晶体结构分析的应用范围。 The t-EBSD technique was proposed since 2012. In this paper, the principle of t-EBSD was introduced. The t- EBSD used in the materials science and the application of this technique combined with other techniques was concluded. Meanwhile, the future research of t-EBSD was proposed. At present, the t-EBSD was used in the research areas such as the super-fined grains, the large-variable metals and oxide film. In the future, the t-EBSD will be combined with more analytical techniques, and the applied range of the high resolution micro crystal structure analysis will be expanded.
作者 覃丽禄
出处 《世界科技研究与发展》 CSCD 2017年第2期134-138,共5页 World Sci-Tech R&D
基金 国家自然科学基金(51301212)资助
关键词 t-EBSD 高分辨率 微区分析 晶体结构 取向 t-EBSD high resolution micro-area analysis crystal structure orientation
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献5

共引文献60

同被引文献124

引证文献7

二级引证文献20

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部