基于热成像技术的轨道车辆配电盘缺陷模式分析与研究

配电盘是轨道车辆的"神经中枢",它集成了电气电路中80%以上的核心部件和电气接点,承载着车辆控制、信号及电能传输等各种电气功能,由于它的工艺复杂,施工难度大,而接线端子数量巨大,从而难以对它进行有效的检验。因此建立标准化的缺陷模式及配电盘实施标准,分析在造成缺陷或事故的原因基础上,导入热成像技术、机器视觉技术等先进技术工艺,以系统的质量保证手段,提前发现隐患,从而能够大幅度减低轨道车辆因配电盘组装质量而引起的缺陷。对轨道车辆配电盘缺陷模式研究的目的在于通过红外热成像技术判别接线端端子虚接的可行性,并且得出判别依据、判别条件等参数,为算法开发工程师进行下一步的工作提供参考依据。