齿轴表面磁粉积聚原因分析及预防

采用化学成分分析、显微维氏硬度测试、金相显微镜等方法对齿轴花键处及轴身磁粉积聚现象进行了分析。主要原因和预防措施如下:齿轴的T形花键处存在龟裂状裂纹,主要是由于磨削不当造成的;而轴身的短条状磁痕主要是由于硫化物夹杂引起的;消除齿轴花键处磨削裂纹可通过选用合适的砂轮、切削液、磨削参数等来实现;消除齿轴轴身处磁粉积聚可通过控制原材料非金属夹杂、提高锻造比、加大轴身粗加工量等措施来实现;在该齿轴上运用这些预防措施已经取得了很好的应用效果。