期刊文献+

55nm工艺平台的标准单元库电路与版图设计研究 被引量:1

Research on Circuit and Layout Design of Standard Cell Library Based on 55nm Platform
下载PDF
导出
摘要 作者基于55 nm工艺平台,自主设计标准单元库的电路与版图,并完成方法性研究及流程验证。本报告主要从标准单元、尺寸定义、版图设计、Testchip设计四个方面对标准单元库的开发工作进行分析与总结。 The thesis describes circuit and layout design, method study and process validation of standard cell library based on hlmc 55 ULP platform. The research mainly focuses on four aspects of standard cell library - the standard units, size definition, landscape design, as well as testchip design.
出处 《集成电路应用》 2017年第5期51-57,共7页 Application of IC
关键词 55 NM 标准单元库 尺寸 版图 Testchip 55 nm ULP, standard cell library, size, layout, testchip
  • 相关文献

同被引文献1

引证文献1

二级引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部