期刊文献+

电子防盗锁的功能电路性能测试研究

Research on the performance test of electronic anti-theft lock
下载PDF
导出
摘要 当下社会经济发展十分迅速,电子防盗锁的更新换代也紧跟时代的步伐。本文主要以电子防盗锁的微控制器芯片为测试对象,对电子防盗锁的温度传感电路、开关状态监测电路以及接口电路三大功能电路性能进行测试研究。 the current social and economic development is very rapid, electronic anti-theft lock update also keep up with the pace of the times. This paper mainly to the microcontroller chip electronic anti-theft lock for the test object, test of electronic anti-theft lock temperature sensing module, switch state monitoring module and interface module three module circuit performance.
出处 《科技风》 2017年第11期9-10,共2页
关键词 电子防盗锁 微控制器 芯片 电路 electronic anti-theft lock microcontroller chip circuit
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献5

共引文献11

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部