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32Gbps高速SerDes量产测试方案
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摘要
SerDes测试主要分BIST测试和high speed I/O测试。BIST测试主要依赖于芯片内部的测试模块,测试芯片功能是否正常,其主要特点是测试效率高,成本低,对load board等硬件制作要求低,但无法测试芯片的特性,测试覆盖率相对较低,并且无法失效定位。而High speed I/O测试基本可以满足所有SerDes测试需求,测试覆盖率高。
作者
曹旭荣
方延奋
王业清
机构地区
爱德万测试(中国)管理有限公司
出处
《中国电子商情》
2017年第6期39-42,共4页
China Electronic Market
关键词
测试方案
信息通信技术
技术发展趋势
数据传输
光纤通信
接口
速度
分类号
F623 [经济管理—产业经济]
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中国电子商情
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