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拉曼光谱在SiC单晶中的应用
被引量:
1
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摘要
本文主要讲述拉曼光谱仪在碳化硅单晶的应用。拉曼光谱谱峰尖锐清晰,适合定性研究碳化硅单晶衬底的分子结构及组成,晶体的立体规整性,结晶与去向,晶体的表面及界面的结构。通过分析晶体的拉曼光谱,可以完善3C-SiC单晶薄膜结晶质量,进一步修正碳化硅单晶生长工艺。
作者
姜志艳
机构地区
中国电子科技集团公司第二研究所
出处
《数字技术与应用》
2017年第5期107-109,共3页
Digital Technology & Application
关键词
Si单晶衬底
3C-SiC单晶薄膜
碳化工艺
分类号
TN304 [电子电信—物理电子学]
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数字技术与应用
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