AM-OLED驱动控制芯片的COB封装与测试

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摘要本文从分析AM-OLED驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该驱动芯片的COB(ship-on-board)封装形式,并依据这种封装形式设计了相应的测试电路板。由于COB封装价格低、封装快捷,在降低芯片测试成本的同时也也大大缩短了试验周期。COB封装操作方便、灵活,可控性强,也满足了我们的特定测试需求。

作者高艳丽杨鑫波

机构地区中国电子科技集团公司第三十八研究所

出处《数字技术与应用》 2017年第6期122-124,共3页 Digital Technology & Application

关键词 AM-OLED 驱动芯片 COB封装

分类号 TP303 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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参考文献1

1李博,魏廷存,樊晓桠.手机用TFT-LCD驱动控制芯片的测试电路结构设计[J].微电子学与计算机,2006,23(12):125-128. 被引量：8

二级参考文献5

1Michael L Bushnell,Vishwani D Agawal.超大规模集成电路测试一数字、存储器和混合信号系统.北京:电子工业出版社,2005.8
2Karim Arabi,Bozena Kaminska.Testing analog and mixedsignal integrated circuits using oscillation-test method IEEE Trans.on computer_aided design of integrated circuits and systems,1997,16(7):745～753
3何蓉晖,李晓维,宫云战.一种低功耗BIST测试产生器方案[J].微电子学与计算机,2003,20(2):36-39. 被引量：11
4韩银和,李晓维,徐勇军,蒋敬旗.SOC测试数据的编码压缩技术[J].微电子学与计算机,2003,20(2):44-47. 被引量：4
5吴光林,胡晨,李锐,杨军,毛武晋.一种并行内建自诊断测试嵌入式SRAM方案[J].电路与系统学报,2003,8(5):51-56. 被引量：7

共引文献7

1王继红,魏廷存,李博.TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的自测试设计[J].半导体技术,2007,32(10):891-893.
2王佳,张哲,胡晨.基于PXA270处理器的18象素位深显示驱动设计与实现[J].电子器件,2008,31(2):420-422.
3刘天成.SPLC093C驱动显示不良的DC参数测试与分析[J].吉林省教育学院学报,2009,25(6):140-142.
4陈超,王党辉,张盛兵,王得利.“龙腾”S2微处理器测试结构设计[J].微电子学与计算机,2010,27(1):109-112. 被引量：1
5濮德龙,刘春来,张东.液晶屏显示驱动芯片测试技术研究[J].数字技术与应用,2016,34(4):59-61. 被引量：2
6高艳丽,郭锐.AM-OLED驱动控制芯片的测试电路设计[J].电脑知识与技术,2017,13(6):232-233.
7王礼元.彩色有源LCD显示屏外围驱动电路研究与设计[J].城市建设理论研究（电子版）,2016,6(7):1966-1967.

1高艳丽,郭锐.AM-OLED驱动控制芯片的测试电路设计[J].电脑知识与技术,2017,13(6):232-233.
2许川佩,王苏妍.基于多种群改进量子进化算法的3D NoC测试功耗优化[J].微电子学与计算机,2017,34(8):17-22. 被引量：1

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