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BGA球窝焊点切片特征与形成机理及控制 被引量:2

Section Features and Formation Mechanism and Control of Head-InPillow Solder Joint of BGA
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摘要 球窝现象(HoP、HiP)是BGA常见的焊接不良,简要介绍了其切片特征、形成机理、产生原因、常见应用场景、X-Ray的检测与判别和防控方法。 the phenomenon of Head-on-Pillow (HOP) or Head-ln-PUlow (HIP) is the common defect of BGA solder joint. Introduce the section features, formation mechanism, causing reason, common application scenarios, X-Ray inspection and criteria as well as prevention methods of Head-on-Pillow (HOP) or Head-In- Pillow (HIP) defect of BGA solder joint.
作者 贾忠中
出处 《电子工艺技术》 2017年第4期245-248,共4页 Electronics Process Technology
关键词 球窝现象 枕头效应 HOP HIP 焊点 BGA Head-on-Pillow Head-In-Pillow solder joint BGA
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