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Xilinx、ARM、Cadence携手台积公司共同构建首款采用7纳米工艺的CCIX测试芯片
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摘要
赛灵思、ARM、Cadcncc和台积公司宣布一项合作,将共同构建首款基于台积7纳米FinFET工艺的支持芯片间缓存一致性(CCIX)的加速器测试芯片,并计划在2018年交付。这一测试芯片旨在从硅芯片层面证明CCIX能够支持多核高性能ARMCPU和FPGA加速器实现一致性互联。
出处
《单片机与嵌入式系统应用》
2017年第10期5-5,共1页
Microcontrollers & Embedded Systems
关键词
纳米工艺
CADENCE
硅芯片
XILINX
ARM
测试
同构
缓存一致性
分类号
TN40 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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