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基于石墨烯墙的异质结光电探测器
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摘要
由于石墨烯的高透光率和硅的高光吸收率,基于石墨烯.硅结构的肖特基异质结在高性能光电探测器方面具有很好的应用前景。然而,现有的制造工艺采用转移石墨烯作为电极,容易因金属催化剂而产生污染,并且由于生长过程中的金属颗粒和聚合物残留物的转移,硅和石墨烯之间的界面通常不理想,硅表面的高反射率常使得有效吸收率远低于所需。
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2017年第8期756-756,847,共2页
Opto-Electronic Engineering
关键词
光电探测器
异质结
石墨
光吸收率
金属催化剂
硅结构
制造工艺
金属颗粒
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
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光电工程
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