期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
通过ECID实现在半导体测试过程中剔除潜在问题芯片
下载PDF
职称材料
导出
摘要
本文介绍了如何应用ECI D信息,通过VB代码尽早将潜在问题芯片剔除,从而降低半导体测试成本并提高测试效率的方法。
作者
武晓捷
机构地区
飞思卡尔半导体(中国)有限公司
出处
《中国集成电路》
2017年第10期67-69,共3页
China lntegrated Circuit
关键词
ECID
VB
J750
半导体测试
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
沈丽.
浅谈任务型语言教学法本身的潜在问题[J]
.长江丛刊,2017,0(26):79-79.
2
Pickering Interfaces推出LXI以太网舌簧继电器矩阵模块[J]
.测控技术,2017,36(10):160-160.
3
Pickering Interfaces推出新款高密度模块化LXI以太网舌簧继电器矩阵模块[J]
.国外电子测量技术,2017,36(9):108-108.
4
苟铭泽,崔少辉.
PXIe总线可重构测试仪器设计[J]
.自动化仪表,2017,38(11):68-70.
被引量：7
5
郭文辉.
金山金矿露天边坡稳定性因素研究[J]
.科学家,2017,5(17):118-118.
6
靳宝.
浅谈提高剪切波速测试效率[J]
.低碳世界,2017,7(30):91-92.
7
刘瑾.
Web系统Selenium WebDriver自动化测试框架搭建[J]
.电子技术与软件工程,2017(21):171-172.
被引量：4
8
吴玮,许海岗,阙向东.
一种作动器自动测试平台的设计与实现[J]
.南京航空航天大学学报,2017,49(S1):140-144.
被引量：2
9
多通道电子负载在LED驱动源上的测试方案[J]
.中国集成电路,2017,26(10):84-86.
10
江飞,曹煌华.
离散事件系统理论在电路故障诊断中的应用[J]
.广播与电视技术,2017,44(10):122-124.
中国集成电路
2017年 第10期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
