基于AT697F的EDAC电路方案设计被引量：1

下载PDF

导出

摘要空间辐射是给航天器电子设备带来恶劣影响的罪魁祸首。辐射可能导致电子器件和材料性能衰退,甚至失效,同时还会对器件功能、性能造成不同程度的瞬态影响。尤其是单粒子翻转（Single Event Upset）,可能会引起器件电性能状态的改变,造成逻辑器件或电路的逻辑错误,

作者黄振张宏财陈之涛

机构地区中国电子科技集团公司第

出处《今日电子》 2017年第11期54-55,共2页 Electronic Products

关键词 DAC电路设计电子器件空间辐射性能衰退单粒子翻转 EVENT 电子设备

同被引文献11

1中国独立设计实验首次飞向国际空间站[J].卫星与网络,2017,0(6):70-70.
2陈宗文,冯鹏飞,蒋育昊,王纪红,蒲坚.干旱区内陆河流域生态服务价值分析[J].林业科技通讯,2017(10):57-61.
3郑宏超,岳素格,王亮,简贵胄,初飞.一种用于ASIC内部存储器单粒子翻转效应评估的方法[J].微电子学与计算机,2017,34(10):22-25. 被引量：2
4刘东宽,方美华,赵鹏飞,周丹晴,周策,王丽,李彦龙.GaAs太阳电池空间辐射损伤衰减评估方法浅析[J].科技创新导报,2017,14(22):16-19.
5刘波,张恒,刘辉,郭强,郑莲玉.FY-3卫星DPT延时链路高可靠全球数据获取技术研究[J].上海航天,2017,34(4):96-103. 被引量：2
6黄正峰,付俊超,欧阳一鸣,闫爱斌,梁华国,易茂祥.一种容SEU的新型自恢复锁存器[J].微电子学,2017,47(5):685-689. 被引量：1
7《解放军医院管理杂志》编辑部.《解放军医院管理杂志》严禁作者一稿多投[J].解放军医院管理杂志,2017,24(9):844-844.
8郭俊生.DVOR4000设备一例边带通路故障分析[J].科技创新导报,2017,14(23):9-10. 被引量：1
9张章,周宇澄,刘俊丞,程心,解光军.一种新型低功耗抗软错误锁存器[J].电子与信息学报,2017,39(10):2520-2525.
10赵学军,金威,何卫锋,毛志刚.基于iRazor时序错误检测与纠正电路改进与应用[J].信息技术,2017,41(10):74-77.

今日电子

2017年第11期

内容加载中请稍等...