一种基于样膏的间接测量方法研究

Study of Indirect Measurement Method Based on the Compound Model

受被测件形状和结构的制约,使测量设备的测头不易触及被测量部件,或者光学仪器无法有效成像。可将被测量用样膏转化为能够测量的同等量,使用精密仪器测量该同等量,从而实现复杂位置尺寸的测量。