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赛默飞发布三款用于半导体领域新品 提升实验室分析效率

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摘要 近日,科学服务领域的世界领导者赛默飞世尔科技(以下简称:赛默飞)亮相成都第24届国际集成电路物理与失效分析研讨会(IPFA 2017),并发布三款用于半导体失效分析工作流程的全新产品,旨在帮助半导体故障分析实验室提升处理样品和获取数据的效率,为寻求快速、高质量的电性和物理失效分析的半导体制造商提供创新解决方案。
出处 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第8期1171-1171,1187,共2页 Chinese Journal of Analytical Chemistry

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