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密封性检测方法已获8项中国美国发明专利授权

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摘要 我们的密封性泄漏机理和检测方法研究以企业和个人自筹资金进行的自由研究为主,先是王庚林开展的10多年断续研究;从2002年起,北京市科通电子继电器总厂成立专门的攻关小组,进行了10多年的连续性系统研究。在研究电磁继电器、固体继电器等密封电子元器件失效现象和泄漏机理理论的基础上.
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2017年第6期62-63,共2页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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