摘要
随着半导体技术的不断发展,功率器件在许多领域都得到了广泛应用.在非平稳工况下,IGBT因使用不当、工作周期长而加速器件的老化和失效,降低其使用寿命.根据IGBT的失效机理和寿命评估方法分析,特征参数选取IGBT的c-e极(集电极-发射集)关断电压尖峰值,由NASA PCo E研究中心提供的IGBT加速老化数据,对相应的数据进行平滑处理,利用MEA-BP建立IGBT的寿命评估模型.结果显示,数据经过一次指数平滑处理的效果一般,对比之下此评估模型的二次指数平滑处理后的效果最好,由此为IGBT寿命评估的进一步分析提供理论依据.
出处
《赤峰学院学报（自然科学版）》
2017年第24期23-24,共2页
Journal of Chifeng University(Natural Science Edition)
基金
安徽省教育厅自然科学基金(KJ2016A306)
