期刊文献+

半导体冷藏箱冷藏温度故障分析与修复 被引量:1

Freezer Temperature Malfunction Analysis and Repair of Semiconductor Refrigerator
下载PDF
导出
摘要 本文采用冷却速度试验、温度回升试验对BC-35A半导体冷藏箱进行了故障分析。结果表明,半导体冷藏箱冷藏温度不合格的主要原因是制冷片的导热硅脂粘贴不牢固,并通过更换半导体制冷片对故障冰箱进行了修复。 In this paper, the cooling speed test and temperature rise test are adopted to analyze the malfunction of BC -35A semiconductor refrigerator. The results show that the main reason of semiconductor refrigerator' s freezer temperature unqualified is that the thermal conductive silicone wasn' t pasted strong, and by changing the semicon- ductor refrigeration sheet to repair failure refrigerator.
出处 《日用电器》 2017年第12期27-29,共3页 ELECTRICAL APPLIANCES
关键词 半导体冷藏箱 冷藏温度 故障分析 semiconductor refrigerator freezer temperature malfunction analysis
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献9

同被引文献5

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部