500kV交流CVT高电压介损诊断对比分析

本文基于一次500kV CVT耦合电容器高压介损试验案例,对部分电容元件的绝缘缺陷这一类导致电容实测值增大的故障进行了更加深入的分析,对两个故障耦合电容器介损和电容量测得值在试验电压从10~96kV左右的上升过程中不同的变化趋势进行了分析、对比。并形成典型案例手册,对以后CVT试验过程中干扰因素进行排除,对设备真实状态进行科学准确评估判断。