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依附于SRAM的XILINX FPGA单粒子翻转测试
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摘要
依附于SRAM(静态随机存取存储器)的XILINX FPGA(赛灵思现场可编程门阵列)具有结构繁琐及资源丰富的特性,在对其予以单粒子试验过程,只有侧重于其特点,设计有针对性的单粒子测试方式才可以精准的获取芯片中的单粒子特性,进而为抗辐设计铺平道路。
作者
张建宁
张毅博
吴红芳
机构地区
凯迈(洛阳)测控有限公司
出处
《电子技术与软件工程》
2018年第4期70-70,共1页
ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
关键词
静态随机存取存储器
单粒子翻转
测试
试验方法
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
V441 [航空宇航科学与技术—飞行器设计]
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电子技术与软件工程
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