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晶硅太阳能单晶电池EL缺陷分析研究 被引量:1

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摘要 重点分析研究晶硅太阳能单晶太阳电池EL常见缺陷原因,电池片EL常见缺陷主要分为原材料类导致的缺陷及过程引入缺陷类。通过对常见的EL缺陷分析研究及有利于改善电池片的产品质量,提升电池片成品的良率,还可进一步降低生产成本。
出处 《电子世界》 2018年第3期144-145,共2页 Electronics World
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