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微处理器基于功能覆盖率的伪随机验证方法
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5
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摘要
本文提出了一种基于功能覆盖率的伪随机验证方法,该方法能根据功能覆盖率的反馈自动生成测试向量进行测试,能提高验证的效率和质量,缩短设计时间,降低验证成本。
作者
张蓓莉
机构地区
国家高性能集成电路(上海)设计中心
出处
《计算机与信息技术》
2006年第4期59-60,共2页
Computer & Information Technology
关键词
覆盖率
伪随机
功能验证
微处理器
分类号
TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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