瓷绝缘子内击穿缺陷导致电晕放电等效模型

利用紫外成像仪观察电晕放电并对其所产生的光子数进行统计，利用光子数表征绝缘子串上的电晕放电的强度。通过示波器对其放电量进行测量，分析其测量结果。通过以上试验对比，提出了相应的等效模型，并验证了文献[16]中所得到的研究结论。