期刊文献+

数字电子电路测试技术

下载PDF
导出
摘要 近年来我国的科学技术得到了一定程度的发展,使得芯片的体积也变得越来越小,内部数字电子电路的设计也变得越来越复杂,给予数字电子电路的测试工作也带来了一定的难度。借助于一种安全可靠的测试模式,还能够促进我国的数字电子电路行业得到更进一步的发展,并对于产品质量的提升有着一定的积极意义。本文主要就数字电子电路的测试技术进行了深入的探究与分析。
出处 《电子技术与软件工程》 2018年第11期114-115,共2页 ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献2

共引文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部