是德科技推出全新第3代参数测试解决方案,帮助客户缩短上市时间并降低测试成本

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摘要最新的参数测试解决方案,采用＂真＂参数化引脚架构,并利用增强型直接电荷测量技术来提升速度2018年1月23日,是德科技（纽约证券交易所代码：KEYS）近日宣布推出其第3代P9000系列大规模并行参数测试系统。该系统不仅可加速新技术的快速发展,更降低了高级半导体逻辑和记忆集成电路开发和制造过程中的测试成本。例如,随着新型器件结构和性能的提高.

出处《国外电子测量技术》 2018年第2期39-39,共1页 Foreign Electronic Measurement Technology

关键词测试解决方案测试成本上市时间科技代参数参数测试系统客户证券交易所

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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国外电子测量技术

2018年第2期

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