基于NI高性能SMU,博达微发布业界首创AI驱动的半导体参数一体化测试系统

近日,基于美国国家仪器（National Instruments,以下简称＂NI＂）的PXI源测量单元（SMU）,专注利用人工智能驱动半导体测试测量的北京博达微科技有限公司（简称＂博达微＂）宣布推出最新基于机器学习的半导体参数化测试产品FS-Pro,真正将IV测试、CV测试、低频噪声（1/f noise）测试等常用低频特性测量集成于一体,实现在单台仪器内完成所有测试的需求,并将测试速度提升10倍,在低频噪声测试中将原本需要几十秒的测试时间缩短至5s以内。