是德科技推出全新第3代参数测试解决方案,帮助客户缩短上市时间并降低测试成本

2018年1月23日，是德科技（纽约证券交易所代码：KEYS）近日宣布推出其第3代P9000系列大规模并行参数测试系统。该系统不仅可加速新技术的快速发展，更降低了高级半导体逻辑及记忆集成电路开发和制造过程中的测试成本。例如，随着新型器件结构和性能的提高，每个先进技术节点（小于或等于20nm）的必要参数测试数据量将急剧增加。