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Elimination of ESD Events and Optimizing Waterjet Deflash Process for Reduction of Leakage Current Failures on QFN-mr Leadframe Devices

Elimination of ESD Events and Optimizing Waterjet Deflash Process for Reduction of Leakage Current Failures on QFN-mr Leadframe Devices
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出处 《Journal of Electrical Engineering》 2018年第4期238-243,共6页 电气工程(英文版)
关键词 高漏电流故障 故障分析 漏电保护 静电 Leakage current failure ESD QFN-mr LF waterjet deflash process.
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