期刊文献+

5-100A整流管芯片台面造型与电压击穿

下载PDF
导出
摘要 对5-100A整流管芯片的垂直边缘面的各种台面结构,根据电中性原理,讨论了其内部关于正负电荷、电力线、电场强度和等势线的分布关系,推导出了各种台面结构在反向电压下的击穿状态理论。选择合适的化学腐蚀造型工艺,使产品在加上反向雪崩电压时处于体击穿状态,避免表面击穿或亚表面层击穿。
出处 《科技传播》 2012年第19期85-86,共2页 Public Communication of Science & Technology
  • 相关文献

参考文献1

  • 1徐传骧.高压硅半导体器件耐压与表面绝缘技术[M],1985.

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部