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作者
李汝
机构地区
河南平顶山
出处
《考试与评价(英语八年级专刊)》
2018年第8期37-38,32,共3页
关键词
中学
英语
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分类号
G63 [文化科学—教育学]
G633.41 [文化科学—教育学]
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LU XiangNing,LIU Fan,HE ZhenZhi,LI LiYi,HU NingNing,SU Lei.
Defect inspection of flip chip package using SAM technology and fuzzy C-means algorithm[J]
.Science China(Technological Sciences),2018,61(9):1426-1430.
被引量:6
考试与评价(英语八年级专刊)
2018年 第8期
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