Jenoptik Industrial Metrology粗糙度、轮廓测量设备提高测量速度

Jenoptik公司的Waveline W800系列粗糙度和轮廓测量设备包括四种配置，基本配置包括一个120mm横向装置和一个500mm垂直测量柱。该新式型号一个轴的移动速度比以往型号快6倍。同现有型号相比，环境噪声过滤量提高约30％。