摘要
在经典高分辨光谱技术中,通常可用一窄带滤波器(例如F-P干涉仪)作光谱分析元件,当滤波器带宽ΔνT远小于待分辨光谱线宽时可直接分辨出光谱线型。它的光谱分辨率取决于滤光器的通带宽度,但是ΔνT越窄,透过的光通量越小。因此,这种方法很难用于检测弱光,尤其是带宽又窄的弱光信号。 我们提出一种新的高分辨谱方法——反卷积法。其基本思想是用一带宽和待分辨光谱带宽相近的滤波器去替代传统的窄带滤波器,然后用反卷积方法复原出光谱线型。
出处
《量子电子学报》
CAS
CSCD
1992年第1期34-35,共2页
Chinese Journal of Quantum Electronics
基金
国家自然科学基金