期刊文献+

电子元器件内部水汽治理的实施与展望 被引量:6

Implementation and Development of Water Vapor Control in Electronic Components
下载PDF
导出
摘要 元器件内部水汽含量超标会对元器件的性能、贮存寿命和可靠性带来严重影响,水汽含量超标造成的失效在元器件使用或贮存一段时间后才能发现,难以通过无损质量检验及在应用初期中发现,且一旦发现,一般为批次性质量问题,常常会给型号研制生产带来进度拖延、质量成本大幅增加等严重后果,对航天型号产品质量可靠性构成严重威胁.
出处 《航天工业管理》 2018年第11期40-42,共3页 Aerospace Industry Management
  • 相关文献

同被引文献41

引证文献6

二级引证文献5

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部