可编程器件测试方法及失效机理探讨

本文对存储器及其它可编程器件的测试方法及失效机理进行了介绍,同时对这类器件在测试筛选及使用中出现的不合格模式从筛选、失效分析方面进行了讨论。引言：可编程器件主要包括存储器、PAL、GAL、FPGA等类型的器件。本文主要以存储器为例进行讨论。存储器包括RAM、EPROM、EEPROM、FLASH等。随着集成电路产业的不断发展,存储器从结构和容量都有很大程度的发展和提高。