摘要
研究了钨条中掺杂泡与钾含量的关系及其对钨条熔断电压的影响。结果表明,垂熔钨条中掺杂泡的面密度随钾含量的增加而增加,当钾含量小于70ppm时尤为明显;微量钾在垂熔过程中形成大量掺杂泡,使钨条有效导电面积减小;第一次还原温度对钨条的熔断电压值有显著影响,这是钨粉原始粒度和钨条中钾含量共同作用的结果,钨粉的费氏粒度、钾含量及熔断电压三者的关系是:V=9.601+6.856×10^(-2)+2.086F;通过热力学计算,认为高温状态下掺杂泡内的钾可能以双原子(K_2)气态存在。
出处
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
1983年第4期1-9,共9页
Rare Metal Materials and Engineering