对传统头影测量中X±S法正常值范围的商榷

x线头影测量技术由Broadbent于1931年首先报道并应用于口腔正畸学的研究,目前已成为正畸和正颌外科临床诊断、治疗设计和预后评价的重要手段。 所谓x线头影测量就是通过头颅定位照像所得影像的测量分析,对牙颌颅面硬、软组织结构间关系作出科学的定量评价,从而为研究颅而生长发育、正畸和正颌外科研究与临床提供依据。