National Instruments公司显屏测试系统软硬件解决方案
出处
《数据采集与处理》
CSCD
2002年第3期243-243,共1页
Journal of Data Acquisition and Processing
-
1Veeco推出最新INSIGHT三维原子力显微镜为45nm以下工艺带来高效精准测量技术[J].电子工业专用设备,2007,36(12):70-70.
-
2SⅡ低耗流LDO电压调节器[J].电子产品世界,2004,11(11B):52-52.
-
3Veeco推出最新INSI GHT三维原子力显微镜为45nm以下工艺带来高效精准测量技术[J].中国集成电路,2008,17(1):7-7.
-
4NI嵌入式控制和采集平台[J].电子产品世界,2004,11(11B):55-55.
-
5新型混合电子器件的太赫兹源拓展返波振荡器的运行范围到2.1THz[J].光机电信息,2009,26(7):46-46.
-
6National Instruments公司显屏测试系统软硬件解决方案[J].数据采集与处理,2002,17(4):394-394.
-
7Sean Mcpeak.仅用一台虚拟仪器在LabView中创建扫频正弦函数[J].电子设计技术 EDN CHINA,2009(10):62-62. 被引量：1
-
8NI下一代多功能数据采集设备[J].电子产品世界,2004,11(12B):56-56.
-
9测试与测量[J].电子产品世界,2006,13(05X):54-55.
-
10Texas Instruments冗余式XAUI收发器[J].电子产品世界,2004,11(06B):10-10.
